引言
力芯微联合手机方案商推出手机整机测试的电源管理解决方案，将为手机厂商带来福音。
对于手机制造商来说，PCB板做板级测试难度明显小于成品手机做整机测试。而由于智能手机的复杂性，即使测试合格的PCB板组装成整机后，元器件也可能由于静电、浪涌、电磁干扰等原因出现漏电等缺陷，导致出厂产品存在一定的失效可能。随着智能手机的产量日益庞大，这个失效率将越来越成为质量管理上的缺口。
这些缺陷有些很轻微，短时间内也许不影响使用体验。但是如今我们谁不是每天都粘在手机上呢？如此高强度的使用会使得很轻微的缺陷累积，量变变成质变，导致元器件失效，从而降低手机的客户使用体验和寿命，也导致了消费者对手机品质的抱怨。
因此，手机厂商需要一种完善的整机漏电和系统测试方案，将不良品挑出，从而实现出货成品质量管理。而且在测试时不能使用内置的电池，外置电源导入提供质量管控的统一标准，更加精准有效的测试出各项电流指标。
为解决此问题，国外某著名的品牌手机在现有标准USB接口五线引脚基础上增加两个引脚，分别作为手机整机测试的测试电源引脚线和接地引脚线，并将此七线USB接口的整机测试方案申请专利。这就将其他手机想要通过这种方式解决问题的路堵死。
手机厂商如何找到破解之道呢？
无锡力芯微电子股份有限公司（ETEK，后文简称“力芯微”）依靠跟各大手机厂商合作中积累的丰富经验，跟手机方案设计公司合作提出了另一种电源管理解决方案，可以有效的解决这些问题。该方案包括两块联动的芯片，分别位于USB接口与系统之间、系统与电池之间，如下图所示：
现有的标准USB接口有五个引脚，分别是给手机电池充电的电源线VCC，数据输入输出引脚D+、D-，接地引脚GND和外接OTG接口引线ID。ID引脚一般悬空，外接OTG设备时，引脚上电压为1.8V。
该方案中的两块芯片在实际工作中相当于两个开关，当通过外接的测试设备对ID引线施加不低于3V的电压时，芯片A导通，同时芯片B断开，由测试设备对手机供电，实现不启用电池而对手机主体的测试。
手机在用户手中正常使用时，芯片B导通，同时芯片A断开，由电池对手机供电，不影响手机的正常使用。同时，芯片B的内阻很小，消耗的电池电量极少，对电池续航能力几乎没有影响。
力芯微的这套解决方案因与现有USB接口标准兼容而受到客户的青睐，从客户实际应用的大量数据反馈证实该方案运行良好可靠。力芯微发言人周宝明表示，国内已经有几家品牌手机厂商对这套物美价廉的解决方案表示兴趣，并洽谈合作。
提起集成电路芯片产业，我们往往会先入为主地认为和国际上的知名品牌公司产品相比，国内的芯片产业会存在有差距。而力芯微的这个案例则给了我们一点启示，芯片设计商在努力提升自己技术实力的同时，更要敏锐地观察市场，贴近用户理解用户，找到用户的现实需求，用实际问题来指导研发，才能实现与客户的双赢。
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